
梅特勒-托利多 微量天平 XS3DU
梅特勒-托利多 微量天平 XS3DU產品介紹
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的稱量性能,完全滿足基礎稱量應用:在800 mg的精細量程范圍內提供1 μg的可讀性。具有同類產品中最佳的重復性可低至0.8 μg,是獲得理想的稱量可靠性的關鍵,避免不必要的重復測試,顯著地降低了樣品和時間的浪費。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。
梅特勒-托利多 微量天平 XS3DU 技術指標
可讀性 |
0.01 mg/0.001 mg
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最大稱量值 |
3.1 g/ 0.8g |
重復性 - 加載處 |
0.006 mg/ 0.001 mg |
- 低加載(加載處) |
0.005 mg (0.2 g)/ 0.0008 mg (0.2 g) |
線性誤差 |
0.004 mg |
典型值 4) |
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典型重復性(sd) |
0.0005 mg +1.2 x (10–7)?R_gr
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典型微分非線性(sd) |
√2x(10-12)g·R_nt
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典型靈敏度偏移(sd)2) |
3x(10-6)· R_nt |
典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd)
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0.1 mg+2.4 x (10–6)?R_gr
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典型穩定時間
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< 6 sec
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穩定時間
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< 10 sec |
- 根據OIML R76
- 在10到30°C的溫度范圍內
- 第一次安裝,使用proFACT校準,靈敏度穩定性
- 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重(樣品質量) a=年
- 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進:- 選擇適當的稱量參數設置,- 選擇合適的天平放置位置,- 使用較小的去皮容器。
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